INSTITUTUL NATIONAL DE CERCETARE-DEZVOLTARE
PENTRU INGINERIE ELECTRICA ICPE-CA
Sigla ICPE-CA MINISTERUL CERCETĂRII, INOVĂRII ȘI DIGITALIZĂRII Sigla MEC
romana english


Investigatii privind compozitia materialelor:

Spectrometru de absorbtie atomica tip SOLAAR S4, cu cuptor de dezagregare;
Spectrometru de masa cu ablatie LASER;
Spectrofotometru UV-Vis 570 Jasco dotat cu sfera integratoare;
Spectrometru UV-Vis Lambda 35 PerkinElmer;
Spectrometru 100 FTIR PerkinElmer;

Investigatii privind structura cristalina:

Difractometru de raze X tip D8 DISCOVER.

Spectrometru de absorbtie atomica tip SOLAAR S4, cu cuptor de dezagregare

- analiza elementala calitativa si cantitativa la nivel de ppm;
- limite de detectie: 0,1 – 1,0 µg/ml.
Este o tehnica de detectie a concentratiilor de elemente din solutii cu concentratii situate intre limita de detectie maxima 5% - 1ppm limita de detectie minima. Acest interval foarte larg de detectie permite detectarea unui spectru foarte larg de elemente metalice (circa 70 de elemente) si anume de la Li la Bi si grupa lantanidelor (de la Ce la Lu).
Datorita metodei care se bazeaza pe legea Beer-Lambert se folosesc o serie de lampi unice pentru fiecare analit de interes iar atomizarea matricilor analizate se produce in flacara oxiacetilenica sau in flacara de protoxid de azot. Acest lucru conduce la o repetabilitate si trasabilitate foarte ridicata fiind un instrument foarte puternic din punct de vedere analitic.
Aducerea matricilor in solutie se face cu ajutorul cuptorului de digestie cu microunde ETHOS folosindu-se metode corespunzatoare pentru elemntele de interes.

Spectrometru de masa cu ablatie laser
Analiza elementala calitativa si cantitativa de elemente pentru probe in stare solida sau aduse in solutie.
- domeniu de masa 5 – 270 amu;
- laser pentru a lucra direct pe probe solide;
- permite determinarea compozitiei elementale: semicantitativ – direct si cantitativ – prin folosirea de etaloane;
- rezolutia de detectie: 0.5 unitati atomice de masa;
- acoperire multi-elementala rapida;
- limite joase de detectie;
- informatie izotopica;
- tehnologie de tip camp axial (tot sistemul de generare si detectie se afla pe o singura axa).
Este un aparat dedicat analizelor de urme din materiale (UltraTrace Analysis) fie din materiale solide (folosind ablatia laser), fie din lichide prin camera de nebulizare Scott (materiale digestate si aduse in solutie).
Acest echipament are domeniul de masura cuprins intre 500 - 100 ppm (limita superioara de detectie) si 1 ppt (limita inferioara de detectie).

Spectrofotometru UV-VIS 570 JASCO dotat cu sfera integratoare
Aparatul determina absorbtia luminii în domeniul UV-Vis NIR a solutiilor coloidale la lungimi de unda de 190...1100 nm.
Sistemul optic: monocromator single; Rezolutia: 2nm;
Sursa de lumina: lampa de deuteriu (190-350 nm) si lampa de halogen (330-1100 nm);
Acuratetea pentru lungimea de unda: +_ 0,3nm;
Latimea benzii spectrale: 2nm.

Spectrometru UV-VIS LAMBDA 35 PERKINELMER
Distanta: 190 – 1100nm; Latime de banda: 0.5 – 4nm (variabila); Prezinta stabilitate mare, înalta precizie si reproductibilitate;
Perfect pentru analiza de rutina a lichidelor, prafurilor, substantelor solidelor, pastelor si gazelor.

Spectrometru 100 FTIR PERKINELMER
Rezolutie spectrala 0.5 cm-1 - 64 cm-1;
Acuratetea lungimii de banda de la 0.1 cm-1 pâna la 1600 cm-1 (6.25 µm);
Sistemul Optic prezinta: Interferometru, Sursa, Detector, Separtor de unde.

Difractometru de raze X tip D8 DISCOVER
- analiza de textura;
- analiza de stres rezidual;
- evaluarea modificarii parametrilor de retea si analiza transformarilor de faza în functie de temperatura în gama: -180°C .... +1100 °C.